TECHNOLOGY · 工艺技术

工艺技术与设备

7 道精密工艺 · 6 台国际一线品牌设备

PROCESS · 工艺流程

7 道精密工艺

从晶圆到成品,每一道工序都凝聚着丰芯对品质的极致追求。

晶圆切割
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晶圆切割

Disco DFD6362 全自动双轴晶圆切割机,划片精度 ±5μm,兼容 8 吋 / 12 吋大尺寸晶圆。

芯片贴装
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芯片贴装

DB-ASM 832i 高精度贴片机,贴片精度 ±10μm,支持银浆、导电胶与 DAF 多工艺。

引线键合
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引线键合

Shinkawa UTC5000 NeoCu Super 铜线键合机,键合速度与一致性达到行业一线水准。

塑封
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塑封

MD-Towa PMC1040-D C-mold 模机,低应力模塑工艺保障芯片长期可靠性。

激光打标
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激光打标

德龙激光 APM71 板边 2D 打标 + APM11 Strip 打标,永久标识、清晰可追溯。

成品测试
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成品测试

全温区 FT + 可靠性验证(HTOL / HTSL / HAST / uHAST),覆盖车规与军工级标准。

编带包装
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编带包装

载带卷盘 + 真空防潮包装,符合 EIA-481 标准,适配客户自动化产线。

EQUIPMENT · 核心设备

6 台国际一线品牌设备

硬件配置对标国内前沿封测厂,奠定高品质交付基础。

MD-Towa PMC1040-D
塑封模机

MD-Towa PMC1040-D

C-mold 低应力模塑,适配 QFN / DFN / BGA 等多种封装外形,单模塑周期行业领先。

Disco DFD6362
晶圆切割

Disco DFD6362

12 吋全自动双轴切割机,划片精度 ±5μm,单片切割效率行业领先,兼容 8 吋 / 12 吋晶圆。

Shinkawa UTC5000
铜线键合

Shinkawa UTC5000 NeoCu Super

高速度铜线键合机,支持 18μm-50μm 多规格键合引线,键合强度与一致性行业领先。

DB-ASM 832i
高精度贴片

DB-ASM 832i

贴片精度 ±10μm,支持银浆、导电胶、DAF 多种贴装工艺,适配薄芯片与小尺寸封装。

德龙激光 APM71
板边 2D 打标

德龙激光 APM71

高分辨率激光打标,永久标识、不损伤封装、清晰可追溯,符合车规与军工标识标准。

德龙激光 APM11
Strip 打标

德龙激光 APM11

Strip 形态打标,适配编带前中间品追溯需求,与 APM71 形成板级 + 条带级双重标识能力。

辅助与检测设备 · 7 台配套,覆盖前道磨划、烘烤、回流、无损检测与尺寸量测
PDS7330
双轴划片

PDS7330 12 寸全自动双轴划片机

12 吋晶圆双轴同步划片,划片速度与精度对标 Disco 系列,承担大尺寸晶圆并行加工任务。

TSK HRG300
磨片

TSK HRG300

支持 12 吋晶圆背面减薄,磨片厚度可控,粗糙度与 TTV 满足后续划片与封装工艺要求。

1936 MK7
回流焊接

1936 MK7 回流炉系统

多温区回流焊接,适配 QFN / BGA 等无铅工艺曲线,温区控制精度高,焊接一致性行业领先。

MF-OV2700W
烘烤固化

双门无氧水冷烤箱 MF-OV2700W

无氧水冷烘烤环境,适配塑封后固化与银浆 / 导电胶烘烤工艺,避免氧化与热损伤。

Sonoscan D9650
超声波扫描

Sonoscan D9650™ C-SAM

超声波扫描显微镜,检测塑封体内分层、气孔、界面空洞等内部缺陷,支撑高可靠封装质量分析。

X-ray
X 射线检测

X-ray 射线检测系统

高分辨率 X 射线无损检测,可视化检查键合引线、焊球阵列与内部结构,识别潜在工艺缺陷。

全自动影像测量仪
尺寸量测

全自动影像测量仪

全自动 2D / 2.5D 尺寸量测,覆盖封装外形、引脚位置、共面性等关键尺寸,精度 ±μm 级。

ADVANTAGE · 工艺优势

为什么选择丰芯

从硬件到工艺,从团队到品控,全方位对标国内前沿封测厂标准。

99.9%

生产良率

稳定量产良率高于 99.9%,交付直通率行业领先。

0.2%

开短路率

成品开短路率控制在 0.2% 以下,远超通用消费级标准。

12"

大尺寸晶圆

支持 12 吋大尺寸晶圆切割,适配先进制程晶圆封装需求。

100%

批次可追溯

全流程批次追溯,每个产品对应唯一 Lot ID 与生产履历。

RELIABILITY · 可靠性验证

全场景可靠性测试能力

覆盖消费级、工业级、车规级与军工级可靠性标准,确保产品在极端环境下长期稳定运行。

HTOL

高温工作寿命测试,验证芯片长期工作可靠性。

HTSL

高温存储寿命测试,验证封装耐高温老化能力。

HAST

高加速应力测试,模拟湿热环境下长期可靠性。

uHAST

无偏压高加速应力测试,评估封装密封性。

TCT

温度循环测试,验证封装热机械可靠性。

全温区 FT

-40℃ ~ 125℃ 全温区成品测试,覆盖车规与军工级环境。

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我们的工艺工程师团队可针对您的产品形态与可靠性要求,输出定制化封装测试方案。

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